Le 3 mars 1986, G. Binnig , C.F. Quate et Ch. Gerber officialisaient dans une publication (Physical Review Letters - http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.56.930) la création d'un outil capable de ne pas endommager la surface et d'avoir une super résolution. Cet outil se nomme Atomic Force Microscope (titre de la publication). Après 30 ans, l'AFM n'a pas encore livré tous ses secrets.